Характеристики КТРУ
Обязательные характеристики КТРУ | |
| Режимы съемки | CBED (эластичная дифракция электронного пучка) EDS (энергодисперсионная спектроскопия) EELS (изображение спектров энергетических потерь электронов) EFTEM (просвечивающая электронная микроскопия с использованием энергетического фильтра) LACBED (эластичная дифракция электронного пучка при больших углах) SAED (общая и эластичная дифракция электронов выбранного участка) SEM (сканирующая электронная микроскопия) STEM (сканирующая просвечивающая электронная микроскопия) ТЕМ (просвечивающая электронная микроскопия) Электронно-спектроскопическое изображение |
| Увеличение, крат | ≤ 200000 ≤ 1000000 |