Характеристики КТРУ Зондовая нанолаборатория
Обязательные характеристики КТРУ | |
Измерительные методики | АСМ литография Контактная АСМ Латерально-силовая микроскопия Метод модуляции силы Метод отображения фазы Отображение адгезионных сил Полуконтактная АСМ |
Необязательные характеристики КТРУ | |
Длина образца, Миллиметр | < 10 ≥ 10 и < 20 ≥ 20 и < 30 ≥ 30 и < 60 ≥ 60 и < 90 ≥ 90 и < 150 ≥ 150 и < 200 ≥ 200 |