Характеристики КТРУ 26.51.61.110-00000008
Наименование характеристики Режимы съемки
ЗначенияТЕМ (просвечивающая электронная микроскопия)STEM (сканирующая просвечивающая электронная микроскопия)SEM (сканирующая электронная микроскопия)SAED (общая и эластичная дифракция электронов выбранного участка)Наименование характеристики Увеличение, крат
Значения≤ 200000